Сеткі
-
Стадыя мікраметраў каліброўка шкалы сеткі
Субстрат:B270
Памяркоўнасць:-0,1 мм
Допуск па таўшчыні:±0,05 мм
Плоскасць паверхні:3(1)@632,8 нм
Якасць паверхні:40/20
Шырыня лініі:0,1 мм і 0,05 мм
Краі:Зазямленне, 0,3 мм макс.Фаска на поўную шырыню
Чыстая дыяфрагма:90%
Паралелізм:<5”
Пакрыццё:Непразрысты хром высокай аптычнай шчыльнасці, укладкі <0,01%@бачная даўжыня хвалі
Празрыстая вобласць, AR: R<0,35%@бачная даўжыня хвалі -
Дакладная аптычная шчыліна – Chrome on Glass
Субстрат:B270
Памяркоўнасць:-0,1 мм
Допуск па таўшчыні:±0,05 мм
Плоскасць паверхні:3(1)@632,8 нм
Якасць паверхні:40/20
Шырыня лініі:0,1 мм і 0,05 мм
Краі:Зазямленне, 0,3 мм макс.Фаска на поўную шырыню
Чыстая дыяфрагма:90%
Паралелізм:<5”
Пакрыццё:Непразрысты хром высокай аптычнай шчыльнасці, укладкі <0,01%@бачная даўжыня хвалі
